沖擊試驗(yan)大電流發生(sheng)器(qi)

1、 HNDL-1000I單相大電流(liu)發(fa)生器

1）基本型 可采(cai)用串(chuan)并聯(lian)，主要于電(dian)力系統的一次(ci)母線保(bao)護和電流(liu)互感器變比等試(shi)驗，也可以對(dui)電流繼電器及(ji)開(kai)關行程時間、過流速斷(duan)、傳動(dong)等試驗進行整定。

2）集成型 集(ji)電流(liu)，時間(jian)，變比(bi)，極性(xing)于一體(ti) 為(wei)供電局，電廠現場測試(shi)。

3）瞬沖型  無需預調。（熔斷(duan)器測(ce)試儀）電流(liu)直接(jie)輸(shu)出額定值。對負(fu)載自適應(ying)。用于熔斷(duan)器測(ce)試。

功能(neng)特點：

1 采用進口(kou)0.23鐵芯，電效(xiao)率高鐵心(xin)無(wu)氣隙，疊(die)裝系數(shu)可(ke)高達(da)95％以上，鐵心(xin)磁導(dao)率可(ke)取(qu)1.5～1.8T（疊(die)片式(shi)鐵心(xin)只能取(qu)1.2～1.4T），電效(xiao)率高達(da)95％以上，空載(zai)電流只有疊(die)片式(shi)的10％。

2 采用(yong)環(huan)形設計。體積(ji)小重量(liang)輕(qing)，環(huan)形變壓器比疊(die)片(pian)式變壓器重量(liang)可以減輕(qing)一半.

3 磁干(gan)擾較小環形(xing)變壓器鐵心沒有氣(qi)隙，繞組(zu)均勻(yun)地繞在環形(xing)的鐵心上(shang)，這種結構導致了漏磁小，電(dian)(dian)磁輻射也(ye)小，無(wu)需另(ling)加(jia)屏(ping)蔽(bi)都可以用到高靈敏度高準度的電(dian)(dian)子(zi)設備上(shang)采用 ;

4 采用0.2級數字式(shi)真(zhen)有(you)效(xiao)值電流(liu)表(biao)顯(xian)示，準(zhun)度高。而且無需外附(fu)標準(zhun)CT及其他附(fu)件，簡潔直(zhi)觀。  ;

5 采用0.2S級高準度(du)電(dian)流(liu)互感器(qi)，保證(zheng)電(dian)流(liu)信號(hao)的(de)線性度(du)和高準度(du)輸出(chu).

6 內置高(gao)準(zhun)度(du)(du)毫秒計。滿足(zu)時間高(gao)準(zhun)度(du)(du)測試(shi)的需要(yao)。           

技(ji)術(shu)參數(shu)：                        

輸入電源(yuan)：AC 220V /380V  50HZ             

電流輸出：0－ 1000A        準度：0.2  分(fen)辨率(lv)：0.01A

電流輸出：1000－ 5000A     準度：0.2  分辨率：0.1A

電流(liu)輸出：5000－ 10000A    準度：0.5  分辨率：1A

電流輸出：10000－50000A    準度：0.5  分(fen)辨(bian)率(lv)：1A

輸出端開口電壓(ya)：≥6V

時間測試(shi)：0.001S－9999.999S  分辨率：0.001S

功(gong)能簡(jian)介：

適(shi)用(yong)于單相、三(san)相熱繼電(dian)器(qi)(qi)及有(you)源或無(wu)源電(dian)動機保(bao)護器(qi)(qi)的(de)(de)過壓、過流(liu)、缺相、不平衡、堵轉及時(shi)間測試,還可測試電(dian)流(liu)繼電(dian)器(qi)(qi)的(de)(de)動作(zuo)電(dian)流(liu)及額定電(dian)流(liu)的(de)(de)動作(zuo)時(shi)間。

1、技術參數：

可長時間輸出0～50A或0～500A電流

三相電流可均衡輸(shu)出(chu)，具(ju)有細調功能(neng)

三相電壓(ya)可均衡輸出，具有細調功能（備選）

可(ke)同步測試熱繼(ji)電器或熱電偶的(de)動作時(shi)間

常(chang)開、常(chang)閉接點自動識別

可同時串(chuan)接(jie)若(ruo)干只校驗，提(ti)高(gao)工作(zuo)效(xiao)率(lv)

2、主要技術(shu)指(zhi)標(biao)

電源輸入：AC  380/220V  50Hz  三相四線

儀表等級(ji)(ji)：0.2級(ji)(ji)

輸出電流：3×50A或3×500A

時間測試：0.001S-999.999S